科学级CCD并联过采样低噪声模拟信号通道

著录项

• 来源
  《应用光学》 |2007年第1期|24-29|共6页
• 作者

  邱虹云; 刘阳; 章恩耀; 孙利群; 田芊;

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• 作者单位

  精密测试技术及仪器国家重点实验室;

  清华大学;

  北京;

  100084;

  精密测试技术及仪器国家重点实验室;

  清华大学;

  北京;

  100084;

  精密测试技术及仪器国家重点实验室;

  清华大学;

  北京;

  100084;

  精密测试技术及仪器国家重点实验室;

  清华大学;

  北京;

  100084;

  精密测试技术及仪器国家重点实验室;

  清华大学;

  北京;

  100084;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 半导体技术;
• 关键词

  科学级CCD; 模拟通道; 读出噪音; 并联; 过采样;