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微光像增强管离子阻挡膜质量测试技术研究

         

摘要

鉴于通常制作的离子阻挡膜存在通孔,在阴极低电压下,经MCP电子倍增在荧光屏上显示为亮孔,为测试出规则与不规则亮孔的大小和数量,提出了一种像管的离子阻挡膜质量测试方法.该方法是在规定电压和光阴极照度的条件下,使像管光阴极接收约2 lx的光照射,给像管各极施加电压使像管荧光屏上离子阻挡膜亮孔清晰可见,用10倍显微镜或相机拍照,观察荧光屏所成的离子阻挡膜通孔图像.试验结果表明:在相同的测试条件下,离子阻挡膜的制作工艺不同,离子阻挡膜质量亦不同.

著录项

  • 来源
    《应用光学》 |2009年第3期|482-485|共4页
  • 作者单位

    微光夜视技术国防科技重点实验室;

    陕西;

    西安;

    710065;

    西安应用光学研究所;

    陕西;

    西安;

    710065;

    微光夜视技术国防科技重点实验室;

    陕西;

    西安;

    710065;

    西安应用光学研究所;

    陕西;

    西安;

    710065;

    微光夜视技术国防科技重点实验室;

    陕西;

    西安;

    710065;

    西安应用光学研究所;

    陕西;

    西安;

    710065;

    微光夜视技术国防科技重点实验室;

    陕西;

    西安;

    710065;

    西安应用光学研究所;

    陕西;

    西安;

    710065;

    微光夜视技术国防科技重点实验室;

    陕西;

    西安;

    710065;

    西安应用光学研究所;

    陕西;

    西安;

    710065;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TN15-34;
  • 关键词

    微光像管; 微通道板; 离子阻挡膜; 膜质量测试;

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