基于OpenCv的石英晶片缺陷检测

唐朋朋; 刘桂礼; 李东; 王艳林

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基于OpenCv的石英晶片缺陷检测

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针对石英晶片在生产制造过程中会产生物理缺陷的问题,提出了基于计算机视觉库OpenCv的石英晶片缺陷检测方法.通过对石英晶片图像进行平滑滤波、二值化处理、边缘检测,将处理后的图片与标准模板进行匹配,从而确定晶片是否存在缺陷.实验结果表明采用OpenCv进行图像处理比采用传统的图像处理代码,程序更简洁,执行效率更高,能较好地完成对晶片的缺陷检测.

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来源
《北京信息科技大学学报（自然科学版）》 |2012年第3期|33-36|共4页
作者
唐朋朋; 刘桂礼; 李东; 王艳林;
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作者单位

北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院,北京 100192;

北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院,北京 100192;

北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院,北京 100192;

北京信息科技大学仪器科学与光电工程学院,北京 100192;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN98;
关键词
OpenCv; 缺陷检测; 图像处理; 石英晶片;

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