多层膜光学常数的迭代椭偏测量研究

机译：椭偏硫族化物中光诱导光学常数变化的椭偏研究

机译：通过同时进行反射率，透射率和椭偏测量来确定薄膜和多层堆叠的光学常数

机译：溅射沉积的氧化锡膜上的椭偏：光学常数与化学计量比，氢含量和电化学嵌入锂的量

机译：椭偏的迭代逆方法测定L-B膜的光学常数和厚度

机译：通过角分辨X射线光电子能谱，零椭偏法和电容电压测量研究氧化物/硅界面的结构和电学性质

机译：自交联壳聚糖/藻酸盐的结构研究原位QCM-D和光谱法的二醛多层膜椭偏仪

机译：分析反射率和反射率的自洽迭代程序   多层材料的光谱椭偏仪数据及其数据   接口

机译：光谱椭偏仪和显微椭偏仪

机译：使用封闭式公式和反射椭偏法确定吸收介质中吸收膜吸收基底系统的基底光学常数和膜厚的方法和智能设备

机译：椭偏测定。多层样品的连续层的材料参数的确定-通过连续去除层，连续椭偏测量以及厚度，折射率和吸收系数的计算。从测试值

机译：结合使用振荡装置和椭偏仪来确定从流体中沉积的材料的不相关有效厚度和光学常数