SiO2纳米粒子自组装膜的制备与表征

李香琴; 刘天庆; 陈彦田

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SiO2纳米粒子自组装膜的制备与表征

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通过静电自组装技术在玻璃基底上组装了具备纳米尺度形貌的Al2O3 和SiO2 纳米粒子薄膜,采用液滴法测量其接触角,利用紫外-可见分光光度计测量其光学吸收特性,并利用原子力显微镜(atom force microscope, AFM)对两种纳米粒子薄膜及空白对比试片的表面结构进行了表征.结果表明,利用静电自组装原理在玻璃基片上组装的表面材料确实具备纳米形貌,且粗糙程度不同,具体为nano-Al2O3＞nano-SiO2＞CTAB＞control.这将为微生物细胞及动物细胞在纳米材料表面上的粘附考评实验做好准备.

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来源
《高校化学工程学报》 |2005年第3期|403-406|共4页
作者
李香琴; 刘天庆; 陈彦田;
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作者单位

大连理工大学,化工学院,辽宁,大连,116012;

大连理工大学,化工学院,辽宁,大连,116012;

大连理工大学,化工学院,辽宁,大连,116012;

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正文语种 chi
中图分类特种结构材料;
关键词
纳米粒子; 自组装; 细胞粘附; 生物材料;

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