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王雪丽; 张伟; 贾志宏; 刘庆;
重庆大学材料科学与工程学院,重庆400044;
FIB; TEM样品制备; V-Cut;
机译:聚焦离子束技术制备金属氧化物界面的TEM样品
机译:用聚焦离子束(FIB)技术制备TEM样品:在陨石中粘土和页硅酸盐研究中的应用
机译:通过聚焦离子束(FIB)技术制备TEM样品:在陨石中粘土和页硅酸盐研究中的应用
机译:聚焦离子束制备的半导体TEM样品的表面损伤
机译:TEM样品制备过程中硅中聚焦离子束损伤的计算和实验量化。
机译:基于过滤的SEM和TEM样品制备同时进行的技术可快速检测病原体
机译:通过等离子体聚焦离子束TEM样品制备保留的电气隔离,并用茎瘟疫成像进行验证
机译:锆的表面积测定和样品制备研究表明锆的化学性质测定锆样品的表面积变化测定电极还原技术测定锆的腐蚀速率
机译:具有识别功能的TEM样品,用于处理TEM样品的聚焦离子束装置和透射电子显微镜
机译:具有识别功能的TEM样品,处理TEM样品的聚焦离子束装置和透射电子显微镜
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