基于电子背散射衍射(EBSD)技术的材料微区应力应变状态研究综述

黄亚敏; 潘春旭

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基于电子背散射衍射(EBSD)技术的材料微区应力应变状态研究综述

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材料中微米级微区范围内的应力和应变状态常被用来解释宏观材料的失效行为.目前的常规技术都难以实现数微米范围内的应力应变测试和分析.电子背散射衍射(EBSD)技术是近年来新发展的可用于微区应力应变状态分析的有力手段.它是扫描电镜(SEM)的附件之一,具有较高的空间分辨率、角度分辨率和应变敏感性.本文以材料形变方式为基础,综述了EBSD技术对弹性应变和塑性应变的不同表征原理与方法.同时,还介绍了应变敏感度的提高和进展,及测量参数对结果精度的影响,为更好地发展该应用提供理论指导.

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来源
《电子显微学报》 |2010年第1期|1-11|共11页
作者
黄亚敏; 潘春旭;
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作者单位

武汉大学物理科学与技术学院,湖北,武汉,430072;

武汉大学物理科学与技术学院,湖北,武汉,430072;

武汉大学电子显微镜中心,湖北,武汉,430072;

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正文语种 chi
中图分类弹性力学;塑性力学;金属物理学;金属材料;电子显微镜;射线衍射分析;
关键词
微区残余应力; EBSD; 弹性应变; 塑性应变; 失效分析;

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