电子束熔炼去除冶金级硅中磷、铝、钙的研究

王强; 董伟; 谭毅; 姜大川; 彭旭; 李国斌

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采用电子束熔炼方法提纯了冶金级硅材料.实验结果表明随熔炼时间延长,硅中挥发性杂质元素P、Al、Ca的含量逐渐降低.熔炼40min后,硅中P含量可以降至2.2×10-5%(质量分数);Al、Ca的最低含量为8.5×10-5%和1.5×10-4%(质量分数).P、Al、Ca的挥发去除为一阶反应过程,反应速率常数分别为0.11、0.12和0.13min-1.

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来源
《功能材料》 |2010年第z1期|144-147|共4页
作者
王强; 董伟; 谭毅; 姜大川; 彭旭; 李国斌;
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作者单位

大连理工大学;

大连理工大学;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TF114.17;
关键词
硅; 电子束熔炼; 除杂; 挥发速率;

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