红外光谱法在SF6电气设备硅绝缘受损潜伏性故障诊断中的应用

著录项

• 来源
  《分析测试学报》 |2016年第8期|1058-1061|共4页
• 作者

  杨韧; 汪金星; 雷永乾; 高超; 张万军; 杨鼎革;

  展开▼
• 作者单位

  国网陕西省电力公司电力科学研究院,陕西西安710054;

  国网陕西省电力公司电力科学研究院,陕西西安710054;

  中国广州分析测试中心,广东广州510070;

  国网陕西省电力公司电力科学研究院,陕西西安710054;

  国网陕西省电力公司电力科学研究院,陕西西安710054;

  国网陕西省电力公司电力科学研究院,陕西西安710054;

  展开▼
• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 红外光谱分析法;电气设备、附件与仪表;
• 关键词

  高压绝缘设备; 红外光谱分析; SF6气体分解产物; SiF4检测;