用椭偏光谱法测量很薄固体膜的光性

机译：大日本丝网株式会社制造的光谱椭偏仪式膜厚计。实现非接触，无损，简便，高精度的测定。光谱椭偏法的进一步应用开发。

机译：数值椭偏仪：在N-k平面中用于未知均质各向同性基板和未知分层基板上生长膜的椭偏仪分析

机译：椭偏和拉曼光谱法测定纳米晶硅膜的结构

机译：温度依赖性光谱 - 椭偏针（T型椭圆形）固体基材上薄聚合物膜的表征

机译：使用原位椭偏仪在快速热处理中测量和控制硅片温度和氧化膜厚度。

机译：自交联壳聚糖/藻酸盐的结构研究原位QCM-D和光谱法的二醛多层膜椭偏仪

机译：椭偏成像法定量分析微结构化固体支撑膜的熔融和相互指合

机译：铝中击穿前钝化膜的椭偏测量

机译：光谱椭偏仪的焦距调整方法，膜厚测量装置和光谱椭偏仪

机译：光谱椭偏仪，膜厚测量装置以及在该光谱椭偏仪中聚焦的方法

机译：光谱式椭偏仪，膜厚测量装置以及在光谱式椭偏仪中的聚焦方法