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CeO2质点对Al2O3型氧化膜和膜/基体界面的原子结合能的影响

         

摘要

采用SIMS测定Al,Ni等二次离子的束流强度与阻止电压曲线新技术,研究了CeO2对1100℃恒温氧化条件下形成的Al2O3型氧化膜和膜/基体界面处的原子结合能的影响,并结合添加CeO2增加了原子间结合能的实验结果,分析了CeO2影响Al2O3氧化膜生长动力学的微观机制。

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