单光束直入射云纹干涉计量——云纹相机和云纹显微镜

王凤翔; 李仁增; 傅艳军; 李禾; 严超华

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本文用傅氏光学原理分析了光栅在斜入射与直入射之间的关系 ,提出了直入射云纹光路及其干涉原理。此光路除了继承斜入射波前干涉原理和有相同灵敏度外 ,还具有结构简化、紧凑 ,集光源到CCD成像为一体的特点 ,从而设计了云纹相机 (f=3 0 0～ 2 40 0线毫米 )和云纹显微镜 (f=12 0 0 0线毫米或灵敏度 =83 .3纳米线 ) ,实现了云纹测量仪器化。至此云纹实验勿需再采用分离元件在实验室的全息平台上进行 ,而可用于现场。本文最后分析了光栅恰如一精密度尺 ,用于变形测量 ,但度尺与被测物不应为同一量级 ,因变形高频信号将被转换为衰逝波被光栅所阻挡。根据目前各相关技术发展的详实资料及光测力学的需求 ,提出可行的纳米级光栅和超紫外云纹 ,这将是新世纪研究微观断裂力学的一个方向。

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来源
《南昌航空大学学报：自然科学版》 |2002年第3期|13-20|共8页
作者
王凤翔; 李仁增; 傅艳军; 李禾; 严超华;
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作者单位

南昌航空工业学院实验力学研究室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光测法;
关键词
云纹干涉; 计量; 云纹相机; 云纹显微镜; 入射方向;

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