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孙海峰; 张红玉; 蔡江;
华北电力大学电气与电子工程学院;
河北保定071003;
SiC; MOSFET模块; 键合线; 健康状态监测; 导通电阻; 温度;
机译:使用STripFET III技术的MOSFET的导通电阻和开关损耗降低技术-引入具有低导通电阻和低Qg特性的平面MOSFET,其损耗超过沟槽栅MOSFET的损耗
机译:碳化硅MOSFET导通电阻表征和建模的温度依赖性
机译:Stripfet IIII技术MOSFET导通电阻开关损耗减少技术 - 引入低电阻,低QG特性平面MOSFET,具有沟槽门MOSFET的损失
机译:具有沟槽底部源极触点的高密度,低导通电阻的沟槽横向功率MOSFET。
机译:使用MO-DVCC和基于MOSFET的电子电阻器的多功能可调电流模式通用双二次滤波器
机译:碳化硅mOsFET的同步导通电压和键合线电阻监测
机译:用于军事和商业应用的低导通电阻siC功率mOsFET的开发
机译:具有降低的导通电阻,增加的介电耐压和降低的阈值电压的碳化硅沟槽MOSFET
机译:碳化硅沟槽式MOSFET的导通电阻降低,介电耐压增加,阈值电压降低
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