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基于反射特性的玉米苗期光谱与农药污染程度关系研究

         

摘要

由于田间大量除草农药的使用,玉米在苗期会受到农药的胁迫.为简单地利用光谱特性反映玉米受污染的程度,为遥感检测玉米生长状况提供依据,以不同污染程度的玉米苗反射光谱为对象,研究了苗期玉米受到污染后的反射光谱特性;同时也对玉米苗反射光谱中的偏振信息进行了测量和分析.结果表明:随着受污染程度的增加,玉米苗的光谱反射比也增加;而计算得到的线偏振度随污染程度的增加而减小,且2种指标与污染程度分别成正相关与负相关,所得到的回归模型的R2分别为0.878 2,0.885 7.在以后研究过程中,可以把现有的非偏振测量方法和偏振测量结合起来,对遥感反演玉米受污染程度有很大的帮助.

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