测量晶体相位延迟量的λ/4波片法研究

孔超; 李国华

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在对晶体材料的光学性质的研究和对晶体器件延迟量的测量中,常因光源起伏影响测量精度,出现较大的测量误差.如果避开光源强度的起伏,将会使测量系统大大简化,同时使测量精度得以提高,减少测量误差.文章利用偏振光偏振态的变化,搭建一套测量系统.利用角度测量替代光强的直接测量,可比较精确地测量晶体的延迟量.由于该测量系统不需直接测量光强,避免了光强不稳定对测量结果的影响.与传统测量方法相比,该测量系统具有构造简单,不受光源起伏影响,以及测量精度高等特点.

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来源
《曲阜师范大学学报：自然科学版》 |2007年第1期|69-71|共3页
作者
孔超; 李国华;
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作者单位

曲阜师范大学激光研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光度学（测光学）;
关键词
偏振光; 波片; 相位延迟;

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