新型高品质因数S形缝隙缺陷地结构(英文)

朱轶智; 张晓娟; 方广有

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新型高品质因数S形缝隙缺陷地结构(英文)

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针对传统的缺陷地结构品质因数低、不足以产生尖锐的谐振特性问题,提出了一种新颖的S形缝隙缺陷地结构.与传统的缺陷地结构相比,该结构具有更高的品质因数、相对更简单而紧凑的布局和更陡峭的阻带特性.通过分析其传输特性提取了该结构的等效电路模型,推导了其结构参数的设计方程,研究了该结构的传输特性随结构参数变化的规律,并总结了设计该S形缝隙缺陷地结构的经验方法.根据此方法设计加工了一个中心频率为4.64GHz的S形缝隙缺陷地结构样品,其品质因数高达39.66,尺寸大小仅为5.00mm×1.40mm,谐振带陡峭而通带插入损耗小,测量结果和仿真结果相吻合,从而验证了该S形缝隙缺陷地在实际工程上的适用性.

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来源
《东南大学学报：英文版》 |2009年第4期|431-434|共4页
作者
朱轶智; 张晓娟; 方广有;
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作者单位

中国科学院电子学研究所;

中国科学院研究生院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类滤波技术、滤波器;微带电路;
关键词
S形缝隙; 缺陷地; 品质因数;

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