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胡晨; 张哲; 史又华; 杨军; 时龙兴;
东南大学国家专用集成电路系统工程技术研究中心;
模拟退火算法; 内建自测试; 低功耗BIST; 可测性设计; 集成电路; 故障覆盖率;
机译:关于低功耗BIST中的切换触发速率降低方法
机译:在BIST环境中以低功耗测试序列实现高缺陷覆盖率
机译:具有FPGA的BIST和低功耗DLL设计的多端口SRAM
机译:降低功耗并在BIST中测试应用时间的技术
机译:低功耗BIST。
机译:模拟退火算法在基于二元评分的染色体重建实验中的应用
机译:现场测试应用和低功耗逻辑BIST的研究
机译:模拟退火算法在组合优化中的应用
机译:使扫描BIST体系结构适合低功耗运行的方法和扫描BIST测试配置
机译:基于模拟退火算法的无线传感器网络和Actor网络中基于扩展树的路由方法
机译:适应Scan-Bist架构以实现低功耗运行
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