霍尔效应测量半导体特性参数中副效应的消除方法

机译：P型N型半导体“霍尔效应”，“霍尔效应”和“二极管”的电流特性

机译：一种提出的利用霍尔效应在半导体中测量微波功率和阻抗的新方法

机译：测量h.f.的新方法半导体中霍尔效应的功率

机译：通过非接触微波技术的霍尔效应测量确定半导体特性

机译：研究间接感应技术的使用，以减少半导体霍尔效应板中几何校正因子的影响

机译：环境效应对外延石墨烯自由电荷载流子特性的原位太赫兹光学霍尔效应测量

机译：化学浴沉积（CBD）方法制备的半导体薄膜的霍尔效应和直流电导率测量的研究

机译：霍尔效应和光调制霍尔效应研究HgCdTe中的多载流子传输特性

机译：用霍尔效应测量半导体参数的方法。

机译：电流测量装置，例如卡车，具有带校正器的计算单元，分别使用来自磁阻和霍尔效应传感器的测量值分别校正霍尔效应和磁阻传感器的测量误差

机译：掺杂霍尔效应器件的有源霍尔效应区的方法和具有掺杂的有源霍尔效应区的霍尔效应器件