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电子实验中的故障构成与分析

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摘要

主要故障可归纳为二大类: 一是元器件功能的失效或元器件参数的偏差所造成的实验故障;二是元器件由于开路、短路所引发的实验故障.元器件的可靠性是实验电路可靠性的基础.元器件的寿命取决于自身质量、工作条件、环境条件.找出故障的模式,分析故障的现象及规律,得出减少故障的方法,有助于提高实践性教学的质量.

著录项

来源
《镇江高专学报》 |2005年第3期|104-106|共3页
作者
门赫;
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作者单位

镇江市高等专科学校,电子信息系,江苏,镇江,212003;

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正文语种 chi
中图分类职业技术教育理论;
关键词
电子实验; 故障; 构成; 分析;

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