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章跃; 王介淦;
淮阴工业专科学校;
南京航空学院 邮编223000;
邮编210016;
干涉显微镜; 离子镀; 膜厚;
机译:光谱成像反射计测量体积薄膜厚度及反射率建模误差补偿
机译:通过全内反射拉曼的厚度测量薄聚合物薄膜并减弱全反射红外光谱
机译:精确测量薄透明薄膜:光学厚度测定的反射测量的可靠性
机译:用于厚度测量的角度分辨反射计的厚度薄膜结构
机译:地面GNSS反射法海平面和湖泊冰层厚度测量
机译:干涉显微镜精确测量超薄切片的厚度
机译:使用白光扫描干涉测量法与反射测量法相结合的透明薄膜层的厚度和表面测量
机译:用X射线反射率测量薄膜厚度的方法评价
机译:在等离子镀膜过程中测量镀膜厚度的方法-通过监视产生反射斑点干扰图案的光束的焦点变化
机译:光学记录介质,相同厚度的薄膜厚度测量方法,薄膜厚度控制方法,制造方法,薄膜厚度测量装置和薄膜厚度控制器
机译:用于测量反射光强度的层状结构,用于测量反射光强度的层状结构的设备以及用于测量薄膜的厚度和/或质量和/或粘度的方法
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