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大功率器件及材料的热特性表征技术研究进展

         

摘要

以氮化镓(GaN)为代表的第三代半导体高功率密度的发展受限于自身热积累效应引起器件结温升高问题,严重导致器件性能和可靠性的下降.因此,器件的热管理已成为大功率器件研发和应用领域的一个重要研究方向,而器件本身及其材料的热特性表征贯穿于功率器件散热技术开发的整个过程,是评估和指导热管理研发的重要途径.为此,综述了国内外正在开展的器件芯片级热特性表征技术研究进展,系统分析了器件结温、外延薄膜热导率、界面热阻等热性能表征技术的优势及局限性,并阐述了这些热性能表征技术对芯片级热管理开发提供的技术指导及其面临的技术挑战.

著录项

  • 来源
    《中国材料进展》 |2018年第12期|1017-1023|共7页
  • 作者单位

    南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室;

    江苏南京210016;

    南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室;

    江苏南京210016;

    南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室;

    江苏南京210016;

    上海交通大学材料科学与工程学院金属基复合材料国家重点实验室;

    上海200240;

    南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室;

    江苏南京210016;

    南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室;

    江苏南京210016;

    南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室;

    江苏南京210016;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 场效应器件;
  • 关键词

    功率器件; 热管理; 结温; 热导率; 界面热阻;

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