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泛华测控推出角位移传感器测试系统

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2009年2月，北京中科泛华测控技术有限公司以“柔性测试”技术为核心设计理念，在深耕传感器测试领域又推出新品——角位移传感器测试系统。该系统主要用于磁感式角位移传感器的校准和终检测试。角位移传感器测试系统可在稳定的环境温度范围内，采用通信方式获取DUT原始数据，并对DUT进行校准和编程，最后测量DUT的输出信号进行验证测试。

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来源
《测控技术》 |2009年第4期|99-100|共2页
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正文语种 chi
中图分类数据处理、数据处理系统;
关键词
角位移传感器; 测试系统; 测控技术; DUT; 设计理念; 温度范围; 原始数据; 通信方式;

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