X射线衍射法测定高岭石合成的NaY分子筛物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比研究

程群

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由高岭石合成的NaY分子筛经如下处理:将试样放入玛瑙研钵中充分研细,经120℃,1h烘干,然后置于氯化钙过饱和水溶液气氛中(室温20～30℃)吸水16～24h;将处理后试样照X射线衍射仪(XRD)进行测定,分析其物相组成、结晶度、晶胞参数及硅铝比.该方法测得的NaY分子筛各参数,比通常采用的化学分析方法省时、简便、重复性好,并为高岭石合成NaY分子筛提供了有效的理论依据,从而可以及时监控合成NaY分子筛的生产过程,降低了NaY分子筛生产成本.

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来源
《冶金标准化与质量》 |2006年第2期|8-10|共3页
作者
程群;
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作者单位

北京普析通用仪器有限责任公司,北京,100081;

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正文语种 chi
中图分类光学;
关键词
X射线衍射仪; NaY分子筛; 物相组成; 结晶度; 晶胞参数; 硅铝比;

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