浅谈存储器测试

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• 来源
  《微处理机》 |2008年第1期|14-15|共2页
• 作者

  刘珊珊; 康锡娥; 马菲;

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• 作者单位

  中国电子科技集团公司第四十七研究所;

  沈阳;

  110032;

  中国电子科技集团公司第四十七研究所;

  沈阳;

  110032;

  辽宁石化职业技术学院自动化系;

  锦州;

  121001;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 微电子学、集成电路（IC）;
• 关键词

  测试; 存储器; 测试向量;