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王祖军; 薛院院; 刘卧龙; 陈伟; 王迪; 焦仟丽; 贾同轩; 杨业; 王茂成; 王百川; 王忠明;
西北核技术研究所;
西安710024;
强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室;
湘潭大学材料科学与工程学院;
湘潭411105;
CMOS图像传感器; 辐照效应; 位移损伤; 电离损伤; 损伤机理;
机译:伽马射线和质子辐照的8T CMOS图像传感器的降解特性
机译:中子,质子和离子辐照CMOS图像传感器中的暗电流光谱:从点缺陷到簇
机译:0.18- CMOS图像传感器中质子和射线辐照引起的暗电流随机电报信号
机译:空间应用CMOS图像传感器的单事件翻转效应研究
机译:质子治疗束辐照人类皮质骨的ESR剂量学研究:实验结果的蒙特卡洛模拟。
机译:质子辐射对PPD CMOS图像传感器暗信号分布的影响:TID和DDD效应
机译:由于中子和质子辐照对以深亚微米技术制造的CMOS图像传感器产生的位移破坏效应
机译:开发用于低成本商业应用的CmOs有源像素图像传感器
机译:使用CMOS图像传感器的图像传感器系统和使用CMOS图像传感器的图像传感器装置
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