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用于离子诱导光子发射显微镜的闪烁体材料

         

摘要

建立了可用于器件单粒子效应(single event effect,SEE)敏感区定位的离子诱导光子发射显微镜(ion photon emission microscopy,IPEM)实验方法,利用光子产生、传输和探测装置,设计搭建了IPEM光学成像系统,测试了适用于该系统的多种闪烁体材料的发射光谱和衰减时间等光学性质,分析对比了160 MeV的Cl离子束辐照不同种类和不同厚度的闪烁体材料时的IPEM系统空间分辨率。研究结果表明,选用10μm厚的ZnS(Ag)粉末作为闪烁体材料时,IPEM光学成像系统空间分辨率最佳为2.8μm;同时,降低闪烁体材料的厚度可提高系统的空间分辨率。

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