首页> 中文期刊> 《哈尔滨师范大学自然科学学报》 >用表面等离子体测量GaAs半导体的三阶光学非线性极 …

用表面等离子体测量GaAs半导体的三阶光学非线性极 …

         

摘要

本文给出了用依赖于强度的表面等离子体色散关系研究三阶光学非线性极化率x^(3)的新方法,可得x^(3)的大小和符号,实验中所用激光波长为1.05μm,样品为GaAs,x^(3)(ω) ̄1.2×10^-9esu。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号