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高强度短寿命核素对其它峰计数率和半衰期影响的研究

         

摘要

利用HPGe探测器及DSPECPlus谱仪的活时间校准模式(LTC)和零死时间校准模式(ZDT),对含有高强度短寿命核素的混合样品作了测量.结果表明:在计数率急剧变化的情况下,LTC方法测得的峰计数经修正以后仍然存在计数丢失;与ZDT模式的数据相比,初始阶段数据丢失率约2.0%~3.8%.这部分不能正确修正的计数对短寿命核素的半衰期几乎没有影响,但是对半衰期相对较长的核素有一定的影响,实验中,LTC和ZDT两种模式下24Na的半衰期相差了2.56%.%Samples containing short-lived nuclides were measured with the two modes of Live-Time Clock (LTC) and Zero-Dead-Time counting (ZDT).A counting-loss with the range of 2.0% to 3.8% is discovered when the count rate changed significantly at the initial phase.The counting-loss almost has no effect on the short-lived nuclides,but,it has some impact on longer half-life nuclides.The measurement results show that there has a difference of 2.56% to 24Na compare with LTC to ZDT mode.

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