HXMT电子学系统可靠性预计中冗余备份方式的研究

著录项

• 来源
  《核电子学与探测技术》 |2010年第8期|1008-1011|共4页
• 作者

  王金明; 刘聪展; 张智; 季建峰;

  展开▼
• 作者单位

  清华大学工程物理系粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084;

  清华大学工程物理系粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084;

  清华大学工程物理系粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084;

  清华大学工程物理系粒子技术与辐射成像教育部重点实验室,北京,100084;

  展开▼
• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 可靠性、稳定性、寿命;
• 关键词

  HXMT; 可靠性; 分块备份; 整机冷备份;