北京谱仪-Ⅲ上D0介子半轻子衰变D0→K-e+veπ-e+ve的蒙特卡罗研究

李蕾; 荣刚; 马海龙

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北京谱仪-Ⅲ上D0介子半轻子衰变D0→K-e+veπ-e+ve的蒙特卡罗研究

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通过分析e+e-→ψ(3770)→D-D,D-D衰变到所有可能末态的蒙特卡罗样本,模拟研究了实验测量D0介子半轻子衰变D0→K-e+veπ-e+ve的绝对分支比.蒙特卡罗事例经过北京谱仪-Ⅲ(BES-Ⅲ)探测器进行了完整的模拟.基于完整的蒙特卡罗模拟样本及物理分析,研究了在BES-Ⅲ上测量D0→K-e+veπ-e+ve衰变分支比所能够达到的精度.研究表明,如果利用BES-Ⅲ能够采集5(20)fb-1的ψ(3770)数据,D0→K-e+veπ-e+ve衰变分支比的测量精度可达到2.2(2.0)%及3.6(2.5)%.根据这两个过程分支比测量的精度,我们给出了实验测量D0介子半轻子衰变D0→K(π)-e+ve的形状因子f+f(π)(0)的测量精度.

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来源
《核电子学与探测技术》 |2010年第9期|1230-1235|共6页
作者
李蕾; 荣刚; 马海龙;
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作者单位

中科院高能物理研究所,北京100049;

中科院高能物理研究所,北京100049;

中科院高能物理研究所,北京100049;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类实验与测定;
关键词
半轻子衰变; 测量精度; 衰变分支比; 形状因子;

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