大规模集成电路单粒子闭锁辐射效应测试系统

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• 来源
  《核电子学与探测技术》 |2005年第6期|724-728|共5页
• 作者

  贺朝会; 耿斌; 李永宏; 惠卫东;

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• 作者单位

  西北核技术研究所,陕西西安69信箱10分箱,710024;

  西安交通大学,陕西西安,710049;

  西北核技术研究所,陕西西安69信箱10分箱,710024;

  西北核技术研究所,陕西西安69信箱10分箱,710024;

  陕西迪科科技有限公司,陕西,西安市,710049;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 微电子学、集成电路（IC）;粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表;
• 关键词

  单粒子闭锁; CMOS存储器; 80C86微处理器;