针对薄层结构物质的微焦点摆动式分层成像方法研究

李政; 刘亚强; 程建平; 倪建平; 康克军; 袁亚玎

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针对薄层结构物质的微焦点摆动式分层成像方法研究

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对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究,是无损检测技术的一个重要应用领域.提出了一种新的成像方法,在现有微焦点X辐射成像系统的基础上,采用一种特殊的摆动式扫描方式,基于非线性的重建成像算法,具有扫描速度快、算法简单、实时性高等特点,适合于多层大面积复合材料以及多层电路板的快速成像检测.

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来源
《核电子学与探测技术》 |2002年第1期|1-3,8|共4页
作者
李政; 刘亚强; 程建平; 倪建平; 康克军; 袁亚玎;
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作者单位

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类核电子学仪器;原子能技术的应用;
关键词
X射线; 数字分层成像; 非线性算法; 相关算法;

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