有限角度摆动式分层成像方法及其在薄层结构物质检测中的应用研究

明明; 李政; 王璟; 程建平; 王学武; 康克军

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在多层结构复合材料获得广泛应用的今天,对其分层结构、密度分布等情况的检测和了解显得尤为重要.在用射线对这类材料进行分层成像检测时,一直存在重建图像质量与重建效率(耗时)的矛盾.本文提出了有限角度摆动式分层成像方法,并且通过计算机仿真计算证明了其合理性和高效率,在此基础上提出了最佳投影角度的选择原则,最后给出了应用实例.

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来源
《核技术》 |2002年第8期|567-572|共6页
作者
明明; 李政; 王璟; 程建平; 王学武; 康克军;
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作者单位

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

清华大学工程物理系,北京,100084;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类核电子学仪器;原子能技术的应用;
关键词
计算机断层成像; 反投影重建; 分层成像; 有限角度;

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