β+延发粒子衰变的一种在束测量方法

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• 来源
  《核电子学与探测技术》 |2001年第6期|417-419439|共4页
• 作者

  王宏伟; 肖志刚; 吴和宇; 段利敏; 张保国; 靳根明; 李祖玉; 魏志勇; 柳永英; 王素芳; 卢朝晖; 陈克良; 胡荣江; 朱海东; 岑玲; 李湘庆; 陈陶; 华辉;

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• 作者单位

  中国科学院近代物理研究所;

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  中国科学院近代物理研究所;

  中国科学院近代物理研究所;

  中国科学院近代物理研究所;

  中国科学院近代物理研究所;

  中国科学院近代物理研究所;

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  中国科学院近代物理研究所;

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  中国科学院近代物理研究所;

  中国科学院近代物理研究所;

  中国科学院近代物理研究所;

  中国科学院近代物理研究所;

  北京大学技术物理系;

  北京大学技术物理系;

  北京大学技术物理系;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 原子核物理实验;
• 关键词

  次级束流线; β+延发粒子衰变; 飞行时间; 能损; 半衰期;