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CdTe在高γ剂量率探测中的应用

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本文介绍CdTe半导体材料在γ射线辐照下发射近红外光的原理,用“闪光—1”加速器输出的γ脉冲对该样品作了性能测试,获得了有用的数据。实验结果表明,自制的CdTe样品可应用于高γ剂量率的探测中。

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来源
《核电子学与探测技术》 |1993年第6期|373|共1页
作者
高文明; 贾焕义;
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作者单位

中国工程物理研究院应用电子研究所;

中国工程物理研究院应用电子研究所;

成都527信箱;

610003;

成都527信箱;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表;
关键词
CdTe; 近红外; 探测; 光纤;

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