钛膜中氢同位素的深度分布

丁伟; 施立群; 龙兴贵

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为评估氢同位素效应对其在贮氢金属中深度分布的影响,对H/D-Ti、D/T-Ti、D-Ti及T-Ti样品用7.4MeV的4He离子束进行30°方向弹性反冲(ERD)分析.由H/D-Ti样品ERD能谱获得其1.7μm深度的D分布,结合D-Ti样品ERD能谱的～3 μm深度的H、D分布进行了模拟分析.结果表明,H、D含量均随深度增加,其分布曲线基本一致,说明在Ti中H、D的分布互不干涉,样品制备过程中其同位素效应不明显.用同样的方法对DT-Ti样品中的D、T分布进行了模拟分析.结果表明,在1.7 μm深度内D、T的分布基本均匀,但由于D、T的能谱过于靠近,其解谱误差较大.用3.0 MeV的质子对HD-Ti和D-Ti进行的质子背散射(PBS)分析表明,两样品中的D分布趋势一致,证明了Ti中H、D的分布互不干涉,样品制备过程其同位素效应不明显的结论.

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来源
《核技术》 |2007年第9期|754-758|共5页
作者
丁伟; 施立群; 龙兴贵;
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作者单位

中国工程物理研究院,核物理与化学研究所,绵阳,621900;

复旦大学现代物理研究所,上海,200433;

中国工程物理研究院,核物理与化学研究所,绵阳,621900;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类加速器;粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表;
关键词
氢同位素; 深度分布; 弹性反冲; 质子背散射;

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