首页> 中文期刊> 《核技术》 >介孔氧化硅的分形特征

介孔氧化硅的分形特征

         

摘要

介孔氧化硅广泛应用于催化、吸附、分离中.将介孔氧化硅进行有机官能化则可改善其孔道表面性能.应用同步辐射小角X射线散射(SAXS)研究了纯介孔氧化硅和有机官能化介孔氧化硅的分形特征,结果表明它们均具有两种分形结构,即表面分形和孔分形.同时探讨了分形维数随样品制备条件的变化规律.

著录项

  • 来源
    《核技术》 |2004年第1期|14-17|共4页
  • 作者单位

    中国科学院山西煤炭化学研究所,煤转化国家重点实验室,太原,030001;

    中国科学院山西煤炭化学研究所,煤转化国家重点实验室,太原,030001;

    太原师范学院化学系,太原,030012;

    中国科学院山西煤炭化学研究所,煤转化国家重点实验室,太原,030001;

    中国科学院山西煤炭化学研究所,煤转化国家重点实验室,太原,030001;

    中国科学院高能物理研究所同步辐射室,北京,100039;

    中国科学院高能物理研究所同步辐射室,北京,100039;

    中国科学院高能物理研究所同步辐射室,北京,100039;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 硅Si;胶体结构;
  • 关键词

    介孔氧化硅; 分形; 小角X射线散射;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号