涂层裂纹引起的MHD效应不稳定性实验模拟

许增裕; 潘传杰; 魏文浩; 陈晓琼; 张延续

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涂层裂纹引起的MHD效应不稳定性实验模拟

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介绍了用铜电极和铜导线模拟管道内电绝缘涂层裂纹,引起磁流体动力学(MHD)效应的最新实验结果.结果表明:绝缘涂层的裂纹不仅使MHD压降大大提高,而且产生MHD效应的不稳定性.边界电位差U和MHD压降ΔP产生跃变,偏离了经典规律,跃变的幅度达100%;且在实验参数不变的情况下,边界电位差U和MHD压降ΔP随时间在振荡.

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来源
《核技术》 |2002年第2期|81-85|共5页
作者
许增裕; 潘传杰; 魏文浩; 陈晓琼; 张延续;
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作者单位

核工业西南物理研究院,成都,610041;

核工业西南物理研究院,成都,610041;

核工业西南物理研究院,成都,610041;

核工业西南物理研究院,成都,610041;

核工业西南物理研究院,成都,610041;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类受控热核反应（聚变反应理论及实验装置）;
关键词
液态金属; 裂纹; MHD不稳定性;

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