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中子照像闪烁屏固有分辨率的研究

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摘要

分析了中子照像闪烁屏的成像机理，找出了影响成像分辨率的主要参量，建立了计算模型，导出了以ＫＬＡＳＥＮＳ法确定的成像分辨率的方法。在此基础上，用计算机进行数值计算，示得分辨率随几个主要参量变化的关系曲线，计算结果与实验事实吻合良好，该模型的计算方法对Ｘ射线照像，γ射线照像增强屏的研究具有参考价值。

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来源
《核技术》 |1997年第12期|722-726|共5页
作者
姚安居; 马维超;
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作者单位

南京理工大学;

南京理工大学;

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原文格式 PDF
正文语种 CHI
中图分类中子衍射及其应用;
关键词
中子照像; 闪烁屏; 分辨率; 计算模型; 成像; 增强屏;

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