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单边合格品链长中位数控制图设计

         

摘要

针对过程数据存在异常值的问题,为了监控过程均值的偏移,采用中位数统计量((X))代替传统均值(X)统计量,提出了一种单边合格品链长(X)(Sided Sensitive Conforming Run Length(X),SCRL&(X))控制图.采用马尔科夫链方法研究了SCRL&(X)控制图的性能,首先推导出其一步状态转移矩阵,进一步根据马尔科夫链的性质得到其平均链长(Average Run Length,ARL).为了获得控制图的最优设计参数和性能指标值,保证其处于过程受控状态下的性能,并使其处于过程失控状态下的平均链长最小.研究结果表明,提出的SCRL&(X)控制图的统计性能优于传统的双边合格品链长(X)(Conforming Run Length,CRL&(X))控制图,尤其针对过程均值产生较小偏移的情形,其优势较为明显.

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