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锗的红外折射率精密测量

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利用所研制的ＫＧＺ－Ⅱ型高精光电折射仪，在５－１０．６μｍ的光谱范围内，测量了由北京有色金属研究总院研制的锗的折射率，并与红外色散公式计算的结果进行了比较，分析了测量准确度的各项主要因素，给出了具有±３＊１０＾－４准确度的测量结果。

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来源
《光学精密工程》 |1998年第4期|123|共1页
作者
米宝永;
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作者单位

中国科学院长春光学精密机械研究所;

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正文语种 chi
中图分类 O434.32;
关键词
折射率; 精密测量; 锗; 红外光学;

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