同轴数字全息用于粒径测量的影响因素分析

李志斌; 郑刚; 章立新; 夏飞

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同轴数字全息用于粒径测量的影响因素分析

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采用同轴数字全息技术测量研究粒子场,其高分辨力的再现像和粒径高精度测量受到诸多因素的影响.本文简要介绍了同轴数字全息的基本概念、原理、方法及其在粒子直径测量中的应用,主要通过计算机仿真研究了记录距离和粒子浓度这两个因素对粒径测量精度的影响,给出了记录距离的范围,同时提出了基于灰度梯度提取粒子边缘进行粒径测量的方法,并通过实验进行了验证.

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来源
《光电工程》 |2008年第8期|24-28,118|共6页
作者
李志斌; 郑刚; 章立新; 夏飞;
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作者单位

上海理工大学光学与电子信息工程学院;

上海电力学院,电力与自动化工程学院,上海,200090;

上海理工大学光学与电子信息工程学院;

上海理工大学动力工程学院,上海,200093;

上海电力学院,电力与自动化工程学院,上海,200090;

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正文语种 chi
中图分类光全息摄影;
关键词
数字全息; 粒径测量; 数值重构; 数字图像处理;

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