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基于改进YOLOv3_iny的压敏电阻表面缺陷检测

         

摘要

针对当前目标检测算法网络复杂,对平台设备要求高;而轻量化网络YOLOv3_iny对压敏电阻表面缺陷的检测精度较低,容易出现漏检错检的情况,提出了基于YOLOv3_iny的改进算法DAYOLOv3_iny。DAYOLOv3_iny构建了深度可分离卷积块替代标准卷积,使用卷积操作进行下采样,使检测网络在减少网络参数量的同时增加了特征的提取;并在网络中引入了通道注意力模块和空间注意力模块,增强了检测网络对重要特征信息的学习。在自制的压敏电阻表面缺陷数据集上进行实验,结果表明,DAYOLOv3_iny的mAP值为92.23%,较改进前提升了12.25%;改进后的DAYOLOv3_iny模型大小为YOLOv3_iny的55.42%,仅18.9 MB。实验表明,DAYOLOv3_iny对压敏电阻表面缺陷的检测精度较高,能够有效改善漏检错检的情况,且网络模型较小,对硬件平台要求不高,易于在性能受限的平台部署。

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