垂直磁记录薄膜退磁场修正及Delta-M曲线测量方法

肖娜; 杨波

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垂直磁记录薄膜退磁场修正及Delta-M曲线测量方法

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垂直磁记录薄膜可以通过Delta-M曲线来判断其磁性晶粒间相互作用等相关磁性能。采用Lakeshore7407型振动样品磁强计(VSM)测量了直流磁控溅射制备的Co23Pt77垂直磁记录薄膜的磁性能,详细介绍了垂直薄膜等温剩磁(IRM)曲线和直流退磁剩磁(DCD)曲线的测量方法及退磁因子的计算方法,确定了退磁场修正方法并讨论了如何根据退磁场修正后的IRM曲线和DCD曲线得到垂直磁记录薄膜的Delta-M曲线。

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来源
《理化检验：物理分册》 |2015年第10期|698-700|共3页
作者
肖娜; 杨波;
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作者单位

东北大学材料电磁过程研究教育部重点实验室;

东北大学材料各向异性与织构教育部重点实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类薄膜测量与分析;
关键词
垂直磁记录薄膜; Delta-M曲线; 退磁场修正; 等温剩磁曲线; 直流退磁剩磁曲线;

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