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徐建平; 张兆雄;
武汉科技大学 省部共建耐火材料与冶金国家重点实验室,武汉 430081;
武汉钢铁有限公司质检中心,武汉 430080;
X射线荧光光谱法; 玻璃片; 二氧化硅; 总硅; 工业硅;
机译:基于同步辐射辐射X射线荧光光谱法测定石墨中的杂质
机译:根据法规指南,波长分散X射线荧光光谱法测定药物和膳食补充剂中金属杂质的可行性
机译:全反射X射线荧光光谱法测定离子液体中的卤化物杂质
机译:工业硅的最新进程在工业硅杂交过程链,使效率高达22.7%
机译:通过二次谐波产生研究了绝缘体上硅和硅/二氧化硅/氧化镁异质结构中的电荷载流子动力学。
机译:全反射X射线荧光光谱法测定海洋生物中铅和铬的新方法的建立和验证
机译:通过全反射X射线荧光光谱法测定石墨和碳化硅中痕量杂质的含量液液萃取。
机译:放射性同位素X射线荧光光谱法测定Kufic银币中重金属杂质的应用
机译:X射线荧光光谱法测定结构材料杂质含量的方法
机译:用于非低温气密性空气的含吸附剂低的二氧化硅低工业硅沸石及其制造方法。
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