亚洲玉米螟为害后玉米冠层光谱变化和产量损失研究

张永强; 文丽萍; 石洁; 王振营; 何康来; 程登发

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2006年在河北农林科学院植保所农场夏播高感亚洲玉米螟的玉米品种郑单958上,于大喇叭口期人工接种2龄玉米螟幼虫以造成不同梯度为害,利用便携式遥感光谱仪(ASDFieldSpec UV/VNIR)在玉米不同生育期收集冠层光谱信息,调查食叶级别,并在收获时统计蛀孔率和产量.结果表明:(1)各生育期食叶级别和对应生育期内的冠层光谱反射率值呈显著负相关,且各个级别之间方差分析差异显著;(2)各波段冠层光谱反射率值和每株虫孔数量的相关性分析得到相关性曲线,750～900 nm相关系数较高,可作为监测的敏感波段;(3)乳熟期光谱数据、平均每株虫孔数量和产量及产量损失率之间均可建立极显著回归方程.用光谱仪所测数据估测产量损失率的精确度比用传统查虫数据估测产量损失率的精确度高,且省时省工.

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来源
《植物保护》 |2007年第5期|54-57|共4页
作者
张永强; 文丽萍; 石洁; 王振营; 何康来; 程登发;
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作者单位

中国农业科学院植物保护研究所,植物病虫害生物学国家重点实验室,北京,100094;

中国农业科学院植物保护研究所,植物病虫害生物学国家重点实验室,北京,100094;

河北省农林科学院植物保护研究所,保定,071000;

中国农业科学院植物保护研究所,植物病虫害生物学国家重点实验室,北京,100094;

中国农业科学院植物保护研究所,植物病虫害生物学国家重点实验室,北京,100094;

中国农业科学院植物保护研究所,植物病虫害生物学国家重点实验室,北京,100094;

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正文语种 chi
中图分类植物病虫害的预测预报;
关键词
亚洲玉米螟; 冠层光谱; 玉米; 产量损失;

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