化学镀银对微带线插入损耗的影响

著录项

• 来源
  《印制电路信息》 |2021年第s01期|8-14|共7页
• 作者

  周柘宁; 王翀; 周国云; 何为; 缪桦; 周进群; 叶晓菁; 朱凯; 王朋举;

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• 作者单位

  电子科技大学材料与能源学院;

  四川成都610054;

  深南电路股份有限公司;

  广东深圳518117;

  江苏铭丰电子材料科技有限公司;

  江苏溧阳213000;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 印刷电路;
• 关键词

  微带线; 化学镀银; 插入损耗; 高频高速;