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精确计算SAR图像质量指标的递推方法

         

摘要

评估合成孔径雷达(SAR)系统性能和SAR干扰系统干扰效果已成为SAR领域里重要的课题.针对理想点目标冲击响应图像的一般特点以及指标检测方法,提出了一种有效的递推方法.利用此方法可精确确定出点目标冲击响应图像第一零点位置,从而使理想状态下SAR图像质量指标计算更加准确快速,为SAR干扰效果评估方法研究提供了很大方便.

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