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光照度平方反比定律在LED光源中的应用与探讨

         

摘要

根据发光二极管(LED)的封装分析发光芯片的虚像位置,推导出利用光照度平方反比定律测量LED平均光强时被照面与光源实际距离的校正值.测试了不同发散角LED在不同测试距离下的光照度,发散角越小,光照度偏离距离平方反比定律的误差越大.通过数据拟合校正测试距离,与理论分析、仿真结果相吻合,校正后LED的平均发光强度、照度与测试距离符合平方反比定律.结果 进一步说明了LED发光强度测量标准中两种距离的设定有待商榷.该实验对光学工程类学科的照度平方反比定律验证实验设计与延伸有一定启发作用.

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