首页> 中文期刊> 《科学与信息化》 >探究X射线荧光分析对欧盟RoHS指令的影响

探究X射线荧光分析对欧盟RoHS指令的影响

         

摘要

本文介绍了采用XRF(X射线荧光光谱分析)对电子电气产品中铅、镉、汞、铬及总溴测试的一般原理,并结合实际的使用经验,对测试中样品的制备、测试过程的优化、谱线的选择做了阐述,对企业应对欧盟RoHS法规物料筛选具有一定的指导意义.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号